삼성SDS, RFID시스템솔루션 美서 호평

삼성SDS는 지난달말 EPC global서 주최한‘프로토타입 테스트’에 국내기업으로는 유일하게 참가하여 전세계 주요 RFID 솔루션과의 연계에 성공해 크게 주목받았다고 9일 밝혔다.

지난 7월 25일부터 28일까지 3일간 美 MIT 공대에서 개최된 이번 테스트에는 전세계 RFID시장에서 최고의 기술역량을 보유한 것으로 알려진 IBM, BEA, NEC, Auto-ID 등 12개社가 참가하였다.

EPCglobal이 주최하고 MIT 공대에서 기술 검증을 한 이번 ‘프로토타입 테스트’는 올 연말 결정 예정인 표준화에 앞서 바로 전단계인 Candidate Standard 수준에 적합한 지를 테스트하는 것으로, 그동안 표준화 작업을 진행해 온 주요 기업들의 솔루션과 상호 데이터 연계를 통하여 표준 준수 여부 및 실제 시장에서 사용 가능한지 등을 검증하는 것이다.

삼성SDS는 자체 개발한 EPCIS 솔루션으로 참가해 IBM, NEC, BEA 등 참가 기업들의 EPCIS 솔루션들과 완벽하게 데이터가 호환되는 것으로 확인, EPCIS 표준 준수 및 상용화가 가능한 솔루션임을 입증했다.

EPC global 관계자는 “한국이 IT강국인 것은 세계가 다 아는 사실이지만, 이번 테스트를 통해 그 기술의 우수성을 다시한번 눈으로 확인했다”면서, “완벽한 솔루션을 선보인 삼성SDS가 한국내에서 RFID의 표준화를 선도할 것으로 기대한다”고 말했다.

삼성SDS 정보기술연구소장 박승안 상무는 “삼성SDS는 그동안 RFID 표준화 특히, EPCIS 표준화 작업에 적극 참여해 왔다. 이번 성과는 이러한 노력의 결과”라며, “국내 최초로 검증된 자체 솔루션을 보유한 만큼 EPC 서비스를 활용한 새로운 비즈니스 모델을 선보이는 등 RFID 관련사업을 본격적으로 전개할 것”이라고 피력했다

<윤훈진 기자>